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XD-1000高性價比型膜厚儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。pcb線路板電鍍鍍層厚度檢測儀
XU-100高性價比專業(yè)級測厚儀膜厚儀 全新下照式設(shè)計、性價比高、適用性強(qiáng),輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結(jié)果。
XAU系列國產(chǎn)X熒光測厚儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。主要用于金屬鍍層厚度的檢測,廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍加工、隔離開關(guān)、材料表面處理、電子連接器等企業(yè),多一次分析三層。
X熒光電鍍厚度測試儀 1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機(jī)物,甚至有同種元素在不同層也可測量。 2.上照式設(shè)計:實現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量。 3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。 4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。 5.小面積測量:小測量面積0.002mm2